AEC-Q100-008-Rev-A：2003
作者：百檢網 時間：2022-08-13
檢測標準/方法：早期失效率 AEC-Q100-008-Rev-A：2003
檢測對象：汽車電子集成電路
檢測項目/參數：高溫壽命試驗
說明（限制范圍）：只測： 85℃～150℃
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