GB/T 6798—1996/4.8 SJ/T 10805-2018/5.8
作者：百檢網 時間：2022-08-15
檢測標準/方法：半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 6798—1996/4.8 SJ/T 10805-2018/5.8
檢測對象：電壓比較器
檢測項目/參數：開環電壓增益AVD
說明（限制范圍）：能測：輸入失調電壓VIO：20mV，輸入失調電流IIO：8μA，輸入偏置電流IIB：8μA，增益40dB～146 dB，輸出高電平電壓VOH：0～40V，輸出低電平電壓VOL：0～2V，電流0～400mA；不能測：輸入失調電壓溫度系數αVIO、輸入失調電流溫度系數αIIO、輸入偏置電流溫度系數αIIB、共模抑制比KCMR、電源電壓抑制比KSVR、*大共模輸入電壓VICM、*大差模輸入電壓VIDM、開環差模輸入電阻RID、開環單端輸出電阻ROS、低電平選通電流IST（L）、高電平選通電流IST（H）、響應時間tR 、選通延遲時間tST 。
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