AEC-Q101-003-REV-A，
作者：百檢網 時間：2022-08-16
檢測標準/方法：引線鍵合剪切試驗
檢測對象：分立器件
檢測項目/參數：引線鍵合剪切試驗
相關標準
《IEC 60747-3-2013》半導體器件分立器件 第3部分：分立器件：信號，開關和整流二極管 IEC 60747-3-2013 6.2.2
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.2
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.4
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T6571-1995》半導體器件 分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第1節/2
《GB/T6571-1995》半導體器件 分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第1節/1
《GB/T6571-1995》半導體器件 分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第2節/1
《GB/T6571-1995》半導體器件 分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第2節/1
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