作者:小強 時間:2022-09-28 來源:互聯網
電子元器件檢測標準細化、規范,電子電器產品檢測不僅有電子元器件,還有電器整機、零部件等。電子元器件是電子元件和小型的機器、儀器的組成部分,其本身常由若干零件構成,可以在同類產品中。電子元器件檢測報告怎么做?有哪些項目及標準?今天百檢網就給大家介紹一下電子元器件檢測相關內容。
如果您有電子元器件相關產品需要檢測,可依據BS EN 100012-1996等標準,對電子元器件進行機械沖擊、變頻振動等項目檢測(具體需要檢測哪些項目會有工程師與您對接溝通*終制定檢測方案)。
檢測標準
BS EN 100012-1996 電子元器件的質量評估協調體系.基礎規范.X射線檢驗電子元件
BS QC 760001-1994 電子元器件質量評定協調體系.膜集成電路和混合集成電路.總規范.內部視力檢驗要求
BS QC 790101-1992 電子元器件質量評估協調體系.半導體器件.集成電路.不包括混合電路的半導體集成電路分規范.不包括混合電路的半導體集成電路分規范.不包括混合電路的半導體集成電路的內目測檢驗
BS EN 117000-1992 電子元器件的質量保證協調體系.總規范.經質量保證的半導體繼電器.一般數據和檢驗方法
BS CECC 00013-1985 電子元器件質量評定協調體系.基本規范:半導體小片的掃描電子顯微鏡檢驗
BS CECC 90000 Addendum No. 1-1983 電子元器件用質量評估協調體系.一般規范:單塊集成電路.內部目測檢驗
BS E9007-1975 電子元器件質量評定協調體系規范.基本規范.按屬性檢驗的取樣計劃及程序
檢測項目及目的:
1、機械沖擊:檢測光電子器件是否能適用在需經受中等嚴酷程度沖擊的電子設備中。沖擊可能是裝卸、運輸或現場使用過程中突然受力或劇烈振動所產生的。
2、變頻振動:檢測在規范頻率范圍內振動對光電子器件各部件的影響。
3、熱沖擊:檢測光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產生的作用。
4、插拔耐久性:檢測光電子器件光纖連接器的插入和拔出,光功率、損耗和反射等參數是否滿足重復性要求。
5、存儲試驗:檢測光電子器件能否經受高溫和低溫下運輸和儲存。
6、溫度循環:檢測光電子器件承受*高溫度和*低溫度的能力,以及*高溫度和*低溫度交替變化對光電子器件的影響。
7、恒定濕熱:檢測密封和非密封光電子器件能否同時承受規定的溫度和濕度。
8、高溫壽命:檢測光電子器件高溫加速老化失效機理和工作壽命。
檢測方法
A、將兩表筆(不分正負)分別與電阻的兩端引腳相接即可測出實際電阻值。為了提高測量精度,應根據被測電阻標稱值的大小來選擇量程。由于歐姆擋刻度的非線性關系,它的中間一段分度較為精細,因此應使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范圍內,以使測量更準確。根據電阻誤差等級不同。讀數與標稱阻值之間分別允許有±5%、±10%或±20%的誤差。如不相符,超出誤差范圍,則說明該電阻值變值了。
B、注意:測試時,特別是在測幾十kΩ以上阻值的電阻時,手不要觸及表筆和電阻的導電部分;被檢測的電阻從電路中焊下來,至少要焊開一個頭,以免電路中的其他元件對測試產生影響,造成測量誤差;色環電阻的阻值雖然能以色環標志來確定,但在使用時建議還是用萬用表測試一下其實際阻值。
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