標準簡介

優先額定值見GB/T12273—1996的2.3。 ———工作溫度范圍; ———電路條件; ———*大激勵電平; ———激勵電平測量; ———氣候類別; ———機械試驗嚴酷度。 按本詳細規范批準合格的元件制造廠的資料可從IECQC001005得到。
英文名稱：Quartz crystal units A specification in the quality assessment system for electronic components Part 5.1: Blank detail specification- qualification approval
標準狀態：現行
替代情況：替代GB/T 15020-1994
中標分類：電子元器件與信息技術>>電子元件>>L21石英晶體、壓電元件
ICS分類：電氣工程>>電工器件>>29.120.70繼電器
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2012-11-05
實施日期：2013-02-15
出版日期：2013-02-15
頁數：12頁

前言

本部分按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。GB/T12273《石英晶體元件 電子元器件質量評定體系規范》分為如下幾個部分:———第1部分:總規范;———第2部分:使用指南;———第3部分:標準外形和引出端連接;———第4部分:分規范 能力批準;———第4.1部分:空白詳細規范 能力批準;———第5部分:分規范 鑒定批準;———第5.1部分:空白詳細規范 鑒定批準。本部分為GB/T12273的第5.1部分。本部分代替GB/T15020—1994《電子設備用石英晶體元件 空白詳細規范 電阻焊石英晶體元件 評定水平E》,與GB/T15020—1994相比,除編輯性修改外主要變化如下:———由于本標準的體系增加了分規范,空白詳細規范根據分規范修改相應的引用內容;———刪去了應該直接寫在分規范中的規定內容;———標準編號按標準不同部分進行了調整。本部分使用重新起草法修改采用IEC61178-3-1:1993《石英晶體元件 IEC電子元器件質量評定體系 第3部分:分規范 鑒定批準**篇:空白詳細規范》。本部分與IEC61178-3-1:1993相比在結構上有調整,原因是:IEC61178-1被IEC60122-1:2002代替,目前IEC61178的其他部分還繼續有效。根據IEC60122的預計結構,本部分應為IEC60122的第5.1部分,待修訂時即進行編號調整。本部分采用了IEC60122的預計結構。這樣的結構清晰并方便使用,并且與IEC有關頻率控制和選擇用元器件規范結構的調整趨勢一致。本部分作了下列編輯性修改:———外形和尺寸圖由第三視角改為**視角;———規范性引用文件中的IEC文件為目前的現行版本。———用GB/T2828.1—2003代替IEC410:1973 計數檢查抽樣方案和程序,前者與后者在使用中無技術性差異。本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出。本部分由全國頻率控制與選擇用壓電器件標準化技術委員會(SAC/TC182)歸口。本部分起草單位:中國電子元件行業協會壓電晶體分會、中國電子技術標準化研究所。本部分主要起草人:章怡、姜連生、李曉英。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:———GB/T15020—1994。