GB/T 20516-2006 半導體器件 分立器件 第4部分：微波器件
作者：百檢網 時間：2022-10-19
標準簡介
本標準等同采用國際標準IEC60747-4：2001《半導體器件 分立器件 第4部分：微波器件》，內容包括：總則，變容二*管、階躍二*管和快速開關肖特基二*管，混頻二*管和檢波二*管，雪崩二*管，體效應二*管，雙*型晶體管，場效應晶體管，評價和可靠性-特殊要求等內容。英文名稱：Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>半導體分立器件>>L40半導體分立器件綜合
ICS分類：電子學>>半導體器件>>31.080.01半導體器件綜合
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2006-10-10
實施日期：2007-02-01
出版日期：2007-02-01
頁數：【膠訂-大印張】平裝16開 頁數：74, 字數：144千字
前言
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