GB/T 13221-2004 納米粉末粒度分布的測定X 射線小角散射法
作者：百檢網 時間：2022-10-19
標準簡介
本標準規定了利用X射線小角散射效應測定納米粉末粒度分布的方法。本標準適用于測定顆粒尺寸在1 nm～300nm范圍內的粉末的粒度分布，對于無機、有機溶膠及生物大分子粒度的測定，也可參照執行。當粉末的顆粒形狀偏離球形時，本方法給出的為等效散射球直徑。本方法不適用于由不同材質的顆粒組成的混合粉末；一般也不適用于有微孔存在的粉末，但當微孔尺寸為納米級而顆粒(或骨架)尺寸在0．5μm以上時，可以用來測定相應的孔徑分布。英文名稱：Nanometer powder—Determinaiton of particle size distribution—Small angle X-ray
標準狀態：現行
替代情況：GB/T 13221-1991
中標分類：儀器、儀表>>試驗機與無損探傷儀器>>N78X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
ICS分類：試驗>>19.120粒度分析、篩分
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2004-09-29
實施日期：2005-04-01
出版日期：2005-04-01
頁數：16開， 頁數：12， 字數：19千字
前言
X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器相關標準相關標準
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