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GB/T 17444-1998 紅外焦平面陣列特性參數測試技術規范

作者：百檢網時間：2022-10-19

標準簡介

本標準所指的焦平面，是敏感紅外輻照的光敏陣列并帶有讀出電路的器件。本標準對焦平面特性參數及相關量進行了定義。本標準給出了焦平面主要特性參數的測試方法及測試條件。本標準適用于線列和面陣焦平面。
英文名稱：The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
標準狀態：作廢
替代情況：被GB/T 17444-2013代替
中標分類：電子元器件與信息技術>>光電子器件>>L52紅外器件
ICS分類：電子學>>31.260光電子學、激光設備
發布部門：國家質量技術監督局
發布日期：1998-07-03
實施日期：1999-05-01
作廢日期：2014-04-15
出版日期：2004-04-15
頁數：18頁

前言

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