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GB/T 17444-2013 紅外焦平面陣列參數測試方法

作者：百檢網時間：2022-10-19

標準簡介

本標準對紅外焦平面陣列特性參數及相關量進行了定義。本標準給出了紅外焦平面陣列特性參數的測試方法及測試條件。本標準適用于線列和面陣紅外焦平面陣列。
英文名稱：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
標準狀態：現行
替代情況：替代GB/T 17444-1998
中標分類：電子元器件與信息技術>>光電子器件>>L52紅外器件
ICS分類：電子學>>31.260光電子學、激光設備
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2013-11-12
實施日期：2014-04-15
出版日期：2014-04-15
頁數：28頁

前言

本標準按照GB1.1—2009給出的規則起草。本標準代替GB/T17444—1998《紅外焦平面陣列特性參數測試技術規范》,與GB/T17444—1998相比主要變化如下:———標準名稱修改為《紅外焦平面陣列參數測試方法》。———增加了一些參數定義,如:紅外焦平面陣列、像元、幀頻、行頻、固定圖形噪聲、平均峰值探測率、飽和信號電壓、像元噪聲等效溫差。———增加一些參數測試方法,如:固定圖形噪聲、讀出速率、幀頻。———增加了附錄D《調制傳遞函數測試方法》、附錄E《非線性度測試方法》。———修改了部分參數的名稱和定義,如:積分時間、讀出速率、輻照功率、輻照能量、飽和輻照功率、死像元、過熱像元、噪聲等效功率。———修改了部分參數的測試方法,如:響應率、噪聲電壓、噪聲等效溫差、探測率、動態范圍、相對光譜響應、串音。本標準由中華人民共和國工業和信息化部提出。本標準由工業和信息化部電子工業標準化研究所歸口。本標準起草單位:中國科學院上海技術物理研究所。本標準主要起草人:丁瑞軍、梁平治、唐紅蘭、陳洪雷、曹嫵媚、殷建軍、陳世軍。本部所代替標準的歷次版本發布情況為:———GB/T17444—1998。

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