GB/T 17473.2-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定
作者：百檢網 時間：2022-10-19
標準簡介
本部分規定了微電子技術用貴金屬漿料細度的刮板測定方法。 本部分適用于微電子技術用貴金屬漿料細度測定。英文名稱：Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness
標準狀態：現行
替代情況：替代GB/T 17473.2-1998
中標分類：冶金>>有色金屬及其合金產品>>H68貴金屬及其合金
ICS分類：冶金>>有色金屬>>77.120.99其他有色金屬及其合金
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2008-03-31
實施日期：2008-09-01
出版日期：2008-06-01
頁數：4頁
前言
本標準是對GB/T17473-1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法》(所有部分)的整合修訂,分為7個部分:---GB/T17473.1-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 固體含量測定;---GB/T17473.2-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定;---GB/T17473.3-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定;---GB/T17473.4-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 附著力測試;---GB/T17473.5-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定;---GB/T17473.6-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 分辨率測定;---GB/T17473.7-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 可焊性、耐焊性測定。本部分為GB/T17473-2008的第2部分。本部分代替GB/T17473.2-1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定》。本部分與GB/T17473.2-1998相比,主要有如下變動:---將原標準名稱修改為:微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定;---刪除了范圍中非貴金屬漿料亦可參照本標準執行的內容;---對檢測試樣不少于5份,每份2g的要求取消,只要求試樣充分攪拌均勻。本部分由中國有色金屬工業協會提出。本部分由全國有色金屬標準化技術委員會歸口。本部分由貴研鉑業股份有限公司負責起草。本部分主要起草人:武新榮、羅云、陳伏生、李文琳、馬曉峰、朱武勛、李晉。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:---GB/T17473.2-1998。相關標準
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