GB/T 17473.3-1998 厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定
作者：百檢網 時間：2022-10-19
標準簡介
本標準規定了貴金屬漿料方阻的測試方法。本標準適用于貴金屬燒結型漿料方阻的測定。非貴金屬漿料亦可參照使用。英文名稱：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance
標準狀態：作廢
替代情況：被GB/T 17473.3-2008代替
中標分類：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
ICS分類：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.01金屬材料試驗綜合
發布部門：國家質量技術監督局
發布日期：1998-08-19
實施日期：1999-03-01
作廢日期：2008-09-01
出版日期：2004-04-15
頁數：平裝16開， 頁數：7， 字數：7千字
前言
金屬物理性能試驗方法相關標準相關標準
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