作者:百檢網 時間:2022-10-19
標準簡介
本標準是對GB/T17473—1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法》(所有部分)的整合修訂,分為7個部分,本部分為GB/T17473—2008的第5部分。 本標準規定了微電子技術用貴金屬漿料中 粘度的測定方法。 本部分代替GB/T17473.5—1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定》。 本部分與GB/T17473.5—1998相比,主要有如下變化: ———將原標準名稱修改為:微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定; ———將原標準中范圍去除“非貴金屬電子漿料粘度測定也可參照本標準執行”前言
本標準是對GB/T17473-1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法》(所有部分)的整合修訂,分為7個部分:---GB/T17473.1-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 固體含量測定;---GB/T17473.2-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定;---GB/T17473.3-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定;---GB/T17473.4-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 附著力測試;---GB/T17473.5-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定;---GB/T17473.6-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 分辨率測定;---GB/T17473.7-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 可焊性、耐焊性測定。本部分為GB/T17473-2008的第5部分。本部分代替GB/T17473.5-1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定》。本部分與GB/T17473.5-1998相比,主要有如下變化:---將原標準名稱修改為:微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定;---將原標準中范圍去除非貴金屬電子漿料粘度測定也可參照本標準執行內容;---增加了采用錐/板粘度計測定內容,適用于樣品較少時的情況下使用。本部分由中國有色金屬工業協會提出。本部分由全國有色金屬標準化技術委員會歸口。本部分由貴研鉑業股份有限公司負責起草。本部分主要起草人:馬曉峰、李文琳、張桂珍、陳伏生、朱武勛、李晉。本部分代替版本的發布情況為:---GB/T17473.5-1998。1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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