作者:百檢網 時間:2022-10-19
標準簡介
GB/T17554的本部分規定了符合 GB/T14916—2006所定義識別卡特性的一些測試方法。每一個測試方法交叉引用一個或多個基本標準,這些基本標準可以是 GB/T14916—2006,也可以是一個或多個定義了在識別卡應用中使用的信息存儲技術的補充標準。 本部分定義了特別針對磁條技術的測試方法。 注1:可接受的準則不包含在本部分中,而是在以上提及的國家標準中。 注2:本部分描述的若干測試方法可單獨進行。對一張指定的卡不要求按順序地通過所有測試。前言
GB/T17554《識別卡 測試方法》擬分為如下部分:———第1部分:一般特性測試;———第2部分:帶磁條的卡;———第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備;———第5部分:光記憶卡;———第6部分:接近式卡;———第7部分:鄰近式卡。本部分為 GB/T17554的第2部分。本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本部分使用翻譯法等同采用ISO/IEC10373-2:2006《識別卡 測試方法 第2部分:帶磁條的卡》。與本部分中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:———GB/T131—2006 產 品 幾 何 技 術 規 范 (GPS) 技 術 產 品 文 件 中 表 面 結 構 的 表 示 法(ISO1302:2002,IDT);———GB/T9286—1998 色漆和清漆 漆膜的劃格試驗(eqvISO2409:1992)。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任。本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出。本部分由全國信息技術標準化技術委員會(SAC/TC28)歸口。本部分起草單位:中國電子技術標準化研究院、云南南天電子信息產業股份有限公司、山東省標準化研究院。本部分主要起草人:夏娣娜、段霞、馮敬、金倩、楊揚、耿力、喬申杰、袁理、王文峰。1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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