作者:百檢網(wǎng) 時間:2022-10-19
標準簡介
本標準規(guī)定了符合GB/T14916-2006所定義識別卡特性的一些測試方法,本部分定義了帶觸點的集成電路卡的測試方法。前言
GB/T17554《識別卡測試方法》擬分為7個部分:-第1部分:一般特性測試-第2部分:磁條卡-第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備-第4部分:無觸點集成電路卡-第5部分:光記憶卡-第6部分:接近式卡-第7部分:鄰近式卡本部分為GB/T17554的第3部分。修改采用國際標準ISO/IEC10373-3:2001《識別卡測試方法第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備})(英文版)。本部分與ISO/IEC10373-3:2001相比,增加和修改了下列內容:a)增加了4.6.2.2參數(shù)定義;b)附錄A中增加了A.1.2點壓力測試,:c)附錄A因增加A.1.2,其編號作了編輯性修改。根據(jù)新版識別卡帶觸點的集成電路卡物理特性標準做了以上修改。本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。本部分由中國電子技術標準化研究所歸口。本部分起草單位:中國電子技術標準化研究所。本部分主要起草人:馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩、劉華茂。1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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