標(biāo)準(zhǔn)簡介

GB/T17554規(guī)定了符合GB/T14916識別卡特性的測試方法。每一測試方法交叉引用一個或多個基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),這些基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)可以是GB/T14916或一個或多個定義了用于識別卡應(yīng)用的信息存儲技術(shù)的補充標(biāo)準(zhǔn)。 GB/T17554的本部分規(guī)定了無觸點集成電路卡技術(shù)(鄰近式卡)的測試方法。第1部分規(guī)定了為一種或多種卡技術(shù)所共用的測試方法;其他部分則規(guī)定了各個專項技術(shù)的測試方法。 除非另有規(guī)定,本部分中的測試僅適用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定義的鄰近式卡。
英文名稱：Identification cards—Test methods—Part 7:Vicinity cards
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
中標(biāo)分類：電子元器件與信息技術(shù)>>計算機>>L64數(shù)據(jù)媒體
ICS分類：信息技術(shù)、辦公機械設(shè)備>>信息技術(shù)應(yīng)用>>35.240.15識別卡和有關(guān)裝置
發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
發(fā)布日期：2010-12-01
實施日期：2011-04-01
出版日期：2011-04-01
頁數(shù)：28頁

前言

GB/T17554在《識別卡 測試方法》總標(biāo)題下,目前分為如下7個部分:———第1部分:一般特性測試;———第2部分:磁條卡;———第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備;———第4部分:無觸點集成電路卡;———第5部分:光記憶卡;———第6部分:接近式卡;———第7部分:鄰近式卡。本部分為GB/T17554的第7部分。本部分使用重新起草法,修改采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC10373-7:2008《識別卡 測試方法 第7部分:鄰近式卡》(英文版)。本部分與ISO/IEC10373-7:2008相比,增加和修改了下列內(nèi)容,并在相應(yīng)條款的外側(cè)頁邊空白處用單垂線標(biāo)示:a) 為了使標(biāo)準(zhǔn)更加清晰易懂,增加了縮略語PCB;b) 為了便于引用,8.1.2做了編輯性修改;c) 為了避免實際應(yīng)用中可能出現(xiàn)在規(guī)定的工作區(qū)域內(nèi)VICC不能正常工作的情況,增加第9章工作場強測試。本部分的附錄A、附錄C和附錄D是規(guī)范性附錄。本部分的附錄B、附錄E和附錄F是資料性附錄。本部分由全國信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC28)提出并歸口。本部分起草單位:中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、東信和平智能卡股份有限公司。本部分主要起草人:馮敬、高林、袁理、金倩、黃小鵬、耿力、趙子淵。