標準簡介

本部分規定了電磁輻射對設備影響和所關心設備電磁輻射發射的試驗方法。 本部分的目的是建立一個使用混波室評估電氣和/或電子設備在射頻電磁場中的性能和確定電氣電子設備的輻射發射等級的通用規范。
英文名稱：Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Reverberation chamber test methods
標準狀態：現行
中標分類：>>>> ?>>>>06
ICS分類：33.100.10;33.100.20
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2014-12-22
實施日期：2015-06-01
出版日期：2015-06-01
頁數：88頁

前言

GB/T17626《電磁兼容 試驗和測量技術》目前包括以下部分:———GB/T17626.1—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 抗擾度試驗總論———GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗———GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射抗擾度試驗———GB/T17626.4—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗———GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 浪涌(沖擊)抗擾度試驗———GB/T17626.6—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻場感應的傳導騷擾抗擾度———GB/T17626.7—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 供電系統及所連設備諧波、諧間波的測量及測量儀器導則———GB/T17626.8—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 工頻磁場抗擾度試驗———GB/T17626.9—2011 電磁兼容 試驗和測量技術 脈沖磁場抗擾度試驗———GB/T17626.10—1998 電磁兼容 試驗和測量技術 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗———GB/T17626.11—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗———GB/T17626.12—2013 電磁兼容 試驗和測量技術 振蕩波抗擾度試驗———GB/T17626.13—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 交流電源端口諧波、諧間波及電網信號的低頻抗擾度試驗———GB/T17626.14—2005 電磁兼容 試驗和測量技術 電壓波動抗擾度試驗———GB/T17626.15—2011 電磁兼容 試驗和測量技術 閃爍儀 功能和設計規范———GB/T17626.16—2007 電磁兼容 試驗和測量技術 0Hz~150kHz共模傳導騷擾抗擾度試驗———GB/T17626.17—2005 電磁兼容 試驗和測量技術 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗———GB/T17626.21—2014 電磁兼容 試驗和測量技術 混波室試驗方法———GB/T17626.24—2012 電磁兼容 試驗和測量技術 HEMP傳導騷擾保護裝置的試驗方法———GB/T17626.27—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 三相電壓不平衡抗擾度試驗———GB/T17626.28—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 工頻頻率變化抗擾度試驗———GB/T17626.29—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗———GB/T17626.30—2012 電磁兼容 試驗和測量技術 電能質量測量方法———GB/T17626.34—2012 電磁兼容 試驗和測量技術 主電源每相電流大于16A 的設備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗本部分是 GB/T17626的第21部分。本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本部分等同采用國際標準IEC61000-4-21:2011(第2版)《電磁兼容(EMC) 第21部分:試驗和測量技術-混波室試驗方法》。與本部分中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:———GB/T2421.1—2008 電工電子產品環境試驗 概述和指南(IEC60068-1:1998,IDT)———GB/T4365—2003 電工術語 電磁兼容[IEC60050(161):1990,IDT]———GB/T6113.101—2008 無線電騷擾和抗擾度測量設備規范 第1-1部分:無線電騷擾和抗擾度測量設備 測量設備(CISPR16-1-1:2006,IDT)———GB/T6113.203—2008 無線電騷擾和抗擾度測量設備規范 第2-3部分:無線電騷擾和抗擾度測量方法 輻射騷擾測量(CISPR16-2-3:2003,IDT)———GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射 抗 擾 度 試 驗 (IEC61000-4-3:2002,IDT)本部分做了如下編輯性修改:———去除了原標準中的IEC、IEEE、IEV、ISO 等縮略語定義;———根據標準上下文,附錄 K 中式(K.5)上一行的“(2)和(3)”修改為式“(K.3)和 式(K.4)”;附錄K 中式(K.9)上一行的“(7)”修改為式“(K.7)”;———IEC61000-4-21:2003中“calibration”在IEC61000-4-21:2011中修改為“validation”,但有部分未 作 修 改。 在 本 部 分 中,根 據 原 標 準 的 上 下 文 關 系,將 部 分 “calibration”修 改 為“validation”,譯為“確認”,如 C.1.2中注2第2行、C.1.2中注3第1行等;———根據公式推導,附錄 K.2中“N 和N-1分別用 N ×M 和(N - (-1))×(M -(-1))代替”修改為“N 和N-1分別用 N×M 和(N-1)×(M -1)代替”。本部分由全國電磁兼容標準化技術委員會(SAC/TC246)提出并歸口。本部分起草單位:東南大學、上海出入境檢驗檢疫局、中國電力科學研究院、上海市計量測試技術研究院、中國電子技術標準化研究院、中國計量科學研究院。本部分主要起草人:周香、周忠元、張嫻、景莘慧、蔣全興、李妮、龔增、陳俐、謝鳴。