標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

GB/T17626的本部分涉及電氣和電子設(shè)備對(duì)重復(fù)性電快速瞬變的抗擾度要求和試驗(yàn)方法。此外,還規(guī)定了試驗(yàn)等級(jí)的范圍,確定了試驗(yàn)程序。 本部分的目的是為評(píng)估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)、控制和接地端口在受到電快速瞬變(脈沖群)干擾時(shí)的性能確定一個(gè)共同的能再現(xiàn)的評(píng)定依據(jù)。本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法描述了一種評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)已定義現(xiàn)象抗擾度的一致性方法。 注:本部分是全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)的電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)的一部分,專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)確定本 抗擾度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)部分是否適用。如果適用,專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)確定適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)等級(jí)和性能判據(jù)。負(fù)責(zé)本部分的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)愿意與專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)在其產(chǎn)品特殊的抗擾度試驗(yàn)值評(píng)估方面合作。 本部分規(guī)定了下列幾項(xiàng): ---試驗(yàn)電壓波形; ---試驗(yàn)等級(jí)的范圍; ---試驗(yàn)設(shè)備; ---試驗(yàn)設(shè)備的校驗(yàn)程序; ---試驗(yàn)配置; ---試驗(yàn)程序。 本部分給出了在實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)和安裝后試驗(yàn)的技術(shù)規(guī)范。
英文名稱：Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
替代情況：替代GB/T 17626.4-1998;被GB/T 17626.4-2018代替
中標(biāo)分類：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L06電磁兼容
ICS分類：電信、音頻和視頻技術(shù)>>電磁兼容性(EMC)>>33.100.20抗擾性
發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
發(fā)布日期：2008-05-20
實(shí)施日期：2009-01-01
作廢日期：2019-01-01
出版日期：2008-08-01
頁數(shù)：24頁

前言

GB/T17626 《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》目前包括以下部分:GB/T17626.1-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論GB/T17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.4-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.5-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.6-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GB/T17626.7-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則GB/T17626.8-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.9-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.10-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.11-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.12-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 振蕩波抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.13-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.14-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.16-2007 電磁兼容 試驗(yàn)與測(cè)量技術(shù) 0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.17-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.27-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.28-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.29-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)本部分為GB/T17626的第4部分。本部分等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-4:2004(第2版)《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》及其第1號(hào)勘誤表(2006年8月)和第2號(hào)勘誤表(2007年6月)。本部分代替GB/T17626.4-1998《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》。 本部分與GB/T17626.4-1998的主要差異如下:1) 在第1章范圍中增加了注釋。2) 刪去了引用標(biāo)準(zhǔn)IEC68-1:1988《環(huán)境試驗(yàn) **部分:總則和導(dǎo)則》。3) 增加了3個(gè)術(shù)語和定義。4) 修改了表1 試驗(yàn)等級(jí),增加了100kHz的重復(fù)頻率和兩個(gè)注釋。5) 修改了對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求,修改了快速瞬變脈沖群發(fā)生器特性的校驗(yàn)方法,增加了對(duì)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)性能校驗(yàn)內(nèi)容,新增圖14。6) 修改了試驗(yàn)配置,增加了圖8。7) 修改了對(duì)氣候條件要求,對(duì)試驗(yàn)時(shí)間進(jìn)行詳細(xì)描述。8) 修改了試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定方法。9) 修改了試驗(yàn)報(bào)告的要求。10) 將原來的附錄A 擴(kuò)充為附錄A 和附錄B,增加了附錄A 關(guān)于電快速瞬變的信息。本部分的附錄A 和附錄B均為資料性的附錄。本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC246)提出并歸口。本部分負(fù)責(zé)起草單位:上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所、國網(wǎng)武漢高壓研究院。本部分主要起草人:王英、楊彥、陳楠、萬保權(quán)、翁海豐、洪濟(jì)曄。本部分代替標(biāo)準(zhǔn)歷次版本的發(fā)布情況為:---GB13926.4-1992;---GB/T17626.4-1998。