標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體管特性圖示儀的術(shù)語(yǔ)和定義、要求、測(cè)試方法、質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)識(shí)、包裝、運(yùn)輸、貯存等。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)試半導(dǎo)體管特性曲線和直流參數(shù)的半導(dǎo)體管特性圖示儀,也適用于具有插入單元或附屬裝置的半導(dǎo)體管特性圖示儀。 圖示儀的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)的要求,當(dāng)圖示儀的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求超出本標(biāo)準(zhǔn)要求時(shí),應(yīng)以產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
英文名稱(chēng)：General specification test methods for semiconductor device curve tracers
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
替代情況：替代GB/T 13973-1992;GB/T 13974-1992
中標(biāo)分類(lèi)：電子元器件與信息技術(shù)>>電子測(cè)量與儀器>>L85電子測(cè)量與儀器綜合
ICS分類(lèi)：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>17.220電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量
發(fā)布部門(mén)：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
發(fā)布日期：2012-12-31
實(shí)施日期：2013-06-01
出版日期：2013-06-01
頁(yè)數(shù)：44頁(yè)

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T13973—1992《半導(dǎo)體管特性圖示儀通用技術(shù)條件》、GB/T13974—1992《半導(dǎo)體管特性圖示儀測(cè)試方法》。本標(biāo)準(zhǔn)納入并調(diào)整了GB/T13973—1992、GB/T13974—1992中適用的內(nèi)容。在環(huán)境適應(yīng)性中各試驗(yàn)項(xiàng)目按照GB/T6587—2012《電子測(cè)量?jī)x器通用規(guī)范》中的有關(guān)規(guī)定。主要變化如下:———增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”(見(jiàn)第3章);———增加了“基準(zhǔn)工作條件”(見(jiàn)5.1);———增加了“檢驗(yàn)條件”(見(jiàn)5.2);———增加了“集電*大電流偏轉(zhuǎn)系數(shù)”(見(jiàn)5.7.2.1.3);———增加了“精密電阻器參考值”(見(jiàn)表3);———增加了“階梯電流偏移和階梯電壓偏移”(見(jiàn)5.7.4.6、5.7.4.7)。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電子測(cè)量?jī)x器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC153)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:上海新建儀器設(shè)備有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:吳宗蘇、徐正江、朱佩華、徐長(zhǎng)風(fēng)、俞見(jiàn)逸。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:———GB/T13973—1992;———GB/T13974—1992。