GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
作者：百檢網 時間：2022-10-20
標準簡介
本標準規定了兩種方法，用于測定ＡＥＳ和ＸＰＳ譜儀強度標在容許線性離散限度范圍內的*大計數率。它也包括校正強度非線性的方法，以便那些譜儀可使用更高的*大計數率，對于這些譜儀相關的校正公式已被證明是有效的。英文名稱：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>計算機>>L67計算機應用
ICS分類：信息技術、辦公機械設備>>信息技術應用>>35.240.70 信息技術在自然科學中的應?化工技術>>分析化學>>71.040.40化學分析
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2007-07-31
實施日期：2008-03-01
出版日期：2008-03-01
頁數：16頁
前言
本標準等同采用ISO21270:2004《表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性》(英文版)。本標準等同翻譯ISO21270:2004。為了方便使用,本標準做了下列編輯性修改:---用小數點符號.代替小數點符號,;---用本標準代替本國際標準。本標準附錄A 為資料性附錄。本標準由全國微束標準化技術委員會提出并歸口。本標準起草單位:中國科學院化學研究所、中國計量科學研究院。本標準起草人:劉芬、邱麗美、趙良仲、王海、宋小平、沈電洪。相關標準
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