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GB/T 14114-1993 半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉換器測試方法的基本原理

作者：百檢網時間：2022-10-20

標準簡介

本標準規定了半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉換器測試方法的基本原理。本標準適用于半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉換器的電參數測試。
英文名稱：General principles of measuring methods of V/F and F/V converters for semiconductor integrated circuits
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>微電路>>L56半導體集成電路
ICS分類：電子學>>31.200集成電路、微電子學
發布部門：國家技術監督局
發布日期：1993-01-21
實施日期：1993-08-01
出版日期：2004-08-13
頁數：平裝16開，頁數：20，字數：35千字

前言

半導體集成電路相關標準

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