GB/T 14115-1993 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測(cè)試方法的基本原理
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2022-10-20
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器的電參數(shù)測(cè)試。英文名稱：General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
中標(biāo)分類：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
ICS分類：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
發(fā)布部門：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期：1993-01-21
實(shí)施日期：1993-08-01
出版日期：2004-08-13
頁(yè)數(shù)：平裝16開(kāi)， 頁(yè)數(shù)：14， 字?jǐn)?shù)：24千字
前言
半導(dǎo)體集成電路相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
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