標準簡介

本部分規定了在控制器和控制回路設備，如傳感器、執行器，以及開關元件之間提供位級和字級通信的接口系統。本接口系統使用圓形或扁平電纜，它們包含一對信號導線，和可選擇的一對電源導線。本部分適用于制定一個使具有該接口的器件能夠互換的技術要求。
英文名稱：Low-voltage switchgear and controlgear—Controller-device interfaces(CDIs)—Part 7:CompoNet
標準狀態：現行
中標分類：電工>>低壓電器>>K30低壓電器綜合
ICS分類：>>29.130.20低壓開關裝置和控制器
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2014-06-24
實施日期：2015-01-22
出版日期：2015-01-22
頁數：168頁

前言

GB/T18858《低壓開關設備和控制設備 控制器-設備接口》分為以下部分:———第1部分:總則;———第2部分:執行器傳感器接口(AS-i);———第3部分:DeviceNet;———第7部分:CompoNet。本部分是 GB/T18858的第7部分。本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本部分與 GB/T18858.1《低壓開關設備和控制設備 控制器-設備接口 第1部分:總則》一起使用。本部分等同采用IEC/PAS62026-7:2009《低壓開關設備和控制設備 控制器-設備接口 第7部分:CompoNet》,本部分在技術內容和編寫格式上與IEC/PAS62026-7:2009《低壓開關設備和控制設備控制器-設備接口 第7部分:CompoNet》一致。與本標準中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:———GB/T5095.1—1997 電子設備用機電元件 基本試驗規程及測量方法 第1部分:總則(idtIEC60512-1:1994)———GB4208—2008 外殼防護等級(IP代碼)(IEC60529:2001,IDT)———GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗(IEC61000-4-2:2001,IDT)———GB/T17626.3—2006 電 磁 兼 容 試 驗 和 測 量 技 術 射 頻 電 磁 場 輻 射 抗 擾 度 試 驗(IEC61000-4-3:2002,IDT)———GB/T17626.4—2008 電 磁 兼 容 試 驗 和 測 量 技 術 電 快 速 瞬 變 脈 沖 群 抗 擾 度 試 驗(IEC61000-4-4:2004,IDT)———GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗和測量技術 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(IEC61000-4-5:2005,IDT)———GB/T17626.6—2008 電 磁 兼 容 試 驗 和 測 量 技 術 射 頻 場 感 應 的 傳 導 騷 擾 抗 擾 度(IEC61000-4-6:2006,IDT)———GB/T15969.2—2008 可編程序控制器 第2部分:設備要求和測試(IEC61131-2:2007,IDT)———GB/T18858.1—2002 低壓開關設備和控制設備 控制器-設備接口(CDI) 第1部分:總則(IEC62026-1:2000,IDT)———GB/T9387.1—1998 信息技術 開放系統互連 基本參考模型 第1部分:基本模型(idtISO/IEC7498-1:1994)———GB4824—2013 工業、科學和醫療(ISM)射頻設備 騷擾特性 限值和測量方法(CISPR11:2010,IDT)本部分由中國電器工業協會提出。本部分由全國低壓電器標準化技術委員會(SAC/TC189)歸口。本部分主要起草單位:上海電器科學研究院。本部分參加起草單位:歐姆龍(上海)有限公司、常熟開關制造有限公司、深圳市泰永科技股份有限公司、蘇州電器科學研究所有限公司、上海諾雅克電氣有限公司、上海電器設備檢測所。本部分主要起草人:奚培鋒、趙芳。本部分參加起草人:關鵬、邵建國、賀貴兵、何秀明、徐澤亮、邢琳。