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GB/T 22319.7-2015 石英晶體元件參數(shù)的測量第7部分：石英晶體元件活性跳變的測量

作者：百檢網(wǎng) 時間：2022-10-20

標(biāo)準(zhǔn)簡介

GB/T22319的本部分規(guī)定了在溫度范圍內(nèi)石英晶體元件活性跳變的測量方法。
英文名稱：Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
中標(biāo)分類：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元件>>L21石英晶體、壓電元件
ICS分類：電子學(xué)>>31.140壓電器件和介質(zhì)器件
發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
發(fā)布日期：2015-06-02
實施日期：2016-02-01
出版日期：2016-02-01
頁數(shù)：8頁

前言

GB/T22319《石英晶體元件參數(shù)的測量》分為如下幾部分:———第1部分:用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法;———第2部分:測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法;———第4部分:頻率達(dá)30MHz石英晶體元件負(fù)載諧振頻率和負(fù)載諧振電阻RL 的測量方法及其他導(dǎo)出參數(shù)的計算;———第5部分:采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定等效電參數(shù)的方法;———第6部分:激勵電平相關(guān)性(DLD)的測量;———第7部分:石英晶體元件活性跳變的測量;———第8部分:表面貼裝石英晶體元件用測量夾具;———第9部分:石英晶體元件寄生諧振的測量。本部分為 GB/T22319的第7部分。本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本部分使用翻譯法等同采用IEC60444-7:2004《石英晶體元件參數(shù)的測量第7部分:石英晶體元件活性跳變和頻率跳變的測量》。本部分作了下列編輯性修改:———將表1中腳注“*”改為腳注“a”;———將3.3中評估公式序號(A)~(D)分別改為a)~d);———刪除評估公式a)前面的“頻率跳變”和公式c)前面的“活性跳變”。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任。本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出。本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC182)歸口。本部分起草單位:中國電子元件行業(yè)協(xié)會壓電晶體分會、南京中電熊貓晶體科技有限公司、唐山晶源裕豐電子股份有限公司、鄭州原創(chuàng)電子科技有限公司。本部分主要起草人:章怡、梁生元、胡志雄、鄒飛。

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