標準簡介

GB/T14849的本部分規定了工業硅中鐵、鋁、鈣、錳、鎳、鈦、銅、磷、鎂、鉻、釩、鈷含量的測定方法。 本部分適用于工業硅中鐵、鋁、鈣、錳、鎳、鈦、銅、磷、鎂、鉻、釩、鈷含量的測定,測定范圍見表1。表 1 元素 質量分數/% 元素 質量分數/% 鐵 0.020~1.500 銅 0.001~0.050 鋁 0.050~1.000 磷 0.001~0.050 鈣 0.010~1.000 鎂 0.001~0.050 錳 0.0050~0.1000 鉻 0.001~0.050 鎳 0.0010~0.1000 釩 0.0005~0.0500 鈦 0.0050~0.1000 鈷 0.0005~0.0500
英文名稱：Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 5:Determination of impurity contents—X-ray fluorescence method
標準狀態：現行
替代情況：替代GB/T 14849.5-2010
中標分類：冶金>>金屬化學分析方法>>H12輕金屬及其合金分析方法
ICS分類：冶金>>有色金屬>>77.120.10鋁和鋁合金
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2014-12-05
實施日期：2015-05-01
出版日期：2015-05-01
頁數：12頁

前言

GB/T14849《工業硅化學分析方法》分為9個部分:———第1部分:鐵含量的測定 1,10-二氮雜菲分光光度法;———第2部分:鋁含量的測定 鉻天青-S分光光度法;———第3部分:鈣含量的測定 火焰原子吸收光譜法、偶氮氯膦Ⅰ分光光度法;———第4部分:雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜;———第5部分:雜質元素含量的測定 X射線熒光光譜法;———第6部分:碳含量的測定 紅外吸收法;———第7部分:磷含量的測定 鉬藍分光光度法;———第8部分:銅含量的測定 PADAP分光光度法;———第9部分:鈦含量的測定 二安替比林甲烷分光光度法。本部分為 GB/T14849的第5部分。本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本部分代替 GB/T14849.5—2010《工業硅化學分析方法 第5部分:元素含量的測定 X 射線熒光光譜法》。本部分與 GB/T14849.5—2010相比,主要有如下變動:———增加了規范性引用文件;———增加了錳、鎳、鈦、銅、磷、鎂、鉻、釩、鈷的檢測;———樣品應破碎通過0.074mm 篩,改為應能通過0.149mm 標準篩;———將粘結劑硼酸改為淀粉或硼酸;———將試料中壓片壓力20kN,保壓時間20s,改為30t壓力下保壓30s;———補充了重復性限及再現性限,增加了試驗報告。本部分由全國有色金屬標準化技術委員會(SAC/TC243)歸口。本部分負責起草單位:昆明冶金研究院、中國鋁業股份有限公司山東分公司、云南永昌硅業股份有限公司。本部分參加起草單位:中國鋁業股份有限公司鄭州研究院、通標標準技術服務有限公司、包頭鋁業有限公司、藍星硅材料有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、云南出入境檢驗檢疫局。本部分主要起草人:劉英波、趙德平、楊海岸、周杰、楊毅、張愛玲、胡智弢、張曉平、劉漢士、劉維理、馬啟坤、唐飛、白萬里、王宏磊、常智杰、聶恒聲、金波、王云舟。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:———GB/T14849.5—2010。