GB/T 15394-1994 多探針測試臺通用技術條件
作者：百檢網 時間：2022-10-21
標準簡介
本標準規定了多探針測試臺的術語、技術要求、試驗方法、檢驗規則、包裝貯存等要求。本標準適用于手動、半自動、全自動多探針測試臺。其他類型的探針測試臺亦可參照使用。英文名稱：General specification for probe tester
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>電子工業生產設備>>L97加工專用設備
ICS分類：電子學>>31.240電子設備用機械構件
發布部門：國家技術監督局
發布日期：1994-01-02
實施日期：1995-08-01
頁數：平裝16開， 頁數：9， 字數：14千字
前言
加工專用設備相關標準相關標準
《IEC 60747-3-2013》半導體器件分立器件 第3部分：分立器件：信號，開關和整流二極管 IEC 60747-3-2013 6.2.2
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.2
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.4
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T4023-2015》半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T4023-2015 7.1.3
《GB/T6571-1995》半導體器件 分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第1節/2
《GB/T6571-1995》半導體器件 分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第1節/1
《GB/T6571-1995》半導體器件 分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第2節/1
《GB/T6571-1995》半導體器件 分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管 GB/T6571-1995 第IV章/第2節/1
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