作者:百檢網(wǎng) 時間:2022-10-21
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本文件規(guī)定了用直排四探針法和直流兩探針法測試硅單晶電阻率的方法。 本文件適用于硅單晶電阻率的測試,其中直排四探針法可測試的p型硅單晶電阻率范圍為7 10-4 ·cm~8 103 ·cm,n型硅單晶電阻率范圍為7 10-4 ·cm~1.5 104 ·cm;直流兩探針法適用于測試截面積均勻的圓形、方形或矩形硅單晶的電阻率,測試范圍為1 10-3 ·cm~1 104 ·cm,樣品長度與截面*大尺寸之比不小于3:1。硅單晶其他范圍電阻率的測試可參照本文件進行。前言
金屬物理性能試驗方法相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務(wù),讓檢測更精準(zhǔn);
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務(wù)周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權(quán)威資質(zhì);
8、檢測報告權(quán)威有效、中國通用;
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