GB/T 1553-1997 硅和鍺體內少數載流子壽命測定光電導衰減法
作者：百檢網 時間：2022-10-21
標準簡介
本標準規定了硅和鍺單晶體內少數載流子壽命的測量方法。本標準適用于非本征硅和鍺單晶體內載流子復合過程中非平衡少數載流子壽命的測量。英文名稱：STANDARD test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
標準狀態：作廢
替代情況：替代GB 1553-1979;GB 5257-1985;被GB/T 1553-2009代替
中標分類：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
ICS分類：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.01金屬材料試驗綜合
發布部門：國家技術監督局
發布日期：1997-06-03
實施日期：1997-01-02
作廢日期：2010-06-01
出版日期：2004-04-01
頁數：平裝16開， 頁數：17， 字數：29千字
前言
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