標準簡介

GB/T11446的本部分規定了電子級水中痕量氟離子(F- )、氯離子(Cl- )、亞硝酸根離子(NO- 2 )、溴離子(Br- )、硝酸根離子(NO- 3 )、磷酸根離子(PO34- )、硫酸根離子(SO24- )的離子色譜測試方法。本部分適用于電子級水中痕量氟離子、氯離子、亞硝酸根離子、溴離子、硝酸根離子、磷酸根離子、硫酸根離子的測定,其中檢出限依次為0.7μg/L、0.8μg/L、1μg/L、1μg/L、1μg/L、1μg/L 和1μg/L。
英文名稱：Test method for trace anion in electronic grade water by ion chromatography
標準狀態：現行
替代情況：替代GB/T 11446.7-1997
中標分類：電子元器件與信息技術>>電子設備專用材料、零件、結構件>>L90電子技術專用材料
ICS分類：31-030
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2013-12-31
實施日期：2014-08-15
出版日期：2014-08-15
頁數：12頁

前言

GB/T11446預計結構如下:———GB/T11446.1 電子級水;———GB/T11446.2 (待定);———GB/T11446.3 電子級水測試方法通則;———GB/T11446.4 電子級水電阻率的測試方法;———GB/T11446.5 電子級水中痕量金屬的原子吸收分光光度測試方法;———GB/T11446.6 電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法;———GB/T11446.7 電子級水中痕量陰離子的離子色譜測試方法;———GB/T11446.8 電子級水中總有機碳的測試方法;———GB/T11446.9 電子級水中微粒的儀器測試方法;———GB/T11446.10 電子級水中細菌總數的濾膜培養測試方法。本部分為GB/T11446的第7部分。本部分按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。本部分代替GB/T11446.7—1997《電子級水中痕量氯離子、硝酸根離子、磷酸根離子、硫酸根離子的離子色譜測試方法》。本部分與GB/T11446.7—1997相比,主要有下列變化:———增加了痕量“氟離子”、“亞硝酸根離子”和“溴離子”的測定方法;———將離子色譜工作原理反應式歸納到附錄A 中;———增加“干擾因素”(見第5章);———刪除“注意事項”(見1997年版的第10章)。本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出。本部分由中國電子技術標準化研究院歸口。本部分起草單位:信息產業部專用材料質量監督檢驗中心、中國科學院半導體研究所、中國電子技術標準化研究院、中國電子科技集團公司第四十六研究所。本部分主要起草人:王奕、褚連青、何秀坤、段曙光、提劉旺、劉筠。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:———GB/T11446.7—1989、GB/T11446.7—1997。