欧洲处破女www人鲁,亚洲无玛,国产bbaaaaa片,三年片在线观看免费播放大全电影国语版

GB/T 24580-2009 重摻n型硅襯底中硼沾污的二次離子質譜檢測方法

作者：百檢網時間：2022-10-21

標準簡介

本標準規(guī)定了重摻n型硅襯底中硼沾污的二次離子質譜測試方法。本標準適用于二次離子質譜法(SIMS)對重摻n型硅襯底單晶體材料中痕量硼沾污(總量)的測試。 1.2 本標準適用于對銻?砷?磷的摻雜濃度<0.2%(1×1020atoms/cm3)的硅材料中硼濃度的檢測。特別適用于硼為非故意摻雜的p 型雜質,且其濃度為痕量水平(<5×1014 atoms/cm3)的硅材料的測試。本標準適用于檢測硼沾污濃度大于SIMS 儀器檢測限(根據儀器的型號不同,檢測限大約在5×1012atoms/cm3~5×1013atoms/cm3)兩倍的硅材料。
英文名稱：Test method for measuring Boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry
標準狀態(tài)：現行
中標分類：冶金>>半金屬與半導體材料>>H80半金屬與半導體材料綜合
ICS分類：電氣工程>>29.045半導體材料
發(fā)布部門：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
發(fā)布日期：2009-10-30
實施日期：2010-06-01
出版日期：2010-06-01
頁數：12頁

前言

本標準修改采用SEMIMF1528??1104《用二次離子質譜法測量重攙雜N 型硅襯底中的硼污染的方法》。本標準對SEMIMF1528??1104格式進行了相應調整。為了方便比較,在資料性附錄B 中列出了本標準章條和SEMIMF1528??1104章條對照一覽表。并對SEMIMF1528??1104條款的修改處用垂直單線標識在它們所涉及的條款的頁邊空白處。本標準與SEMIMF1528??1104相比,主要技術差異如下:---去掉了目的?關鍵詞;---將實際測試得到的單一試驗室的精密度結果代替原標準中的精度和偏差部分,并將原標準中的精度和偏差部分作為資料性附錄A 。本標準附錄A 和附錄B為資料性附錄。本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會提出。本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會歸口。本標準起草單位:信息產業(yè)部專用材料質量監(jiān)督檢驗中心?中國電子科技集團公司第四十六研究所。本標準主要起草人:馬農農、何友琴、丁麗。

百檢能給您帶來哪些改變？

1、檢測行業(yè)全覆蓋，滿足不同的檢測；

2、實驗室全覆蓋，就近分配本地化檢測；

3、工程師一對一服務，讓檢測更精準；

4、免費初檢，初檢不收取檢測費用；

5、自助下單快遞免費上門取樣；

6、周期短，費用低，服務周到；

7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質；

8、檢測報告權威有效、中國通用；

客戶案例展示

版權與免責聲明

①本網注名來源于“互聯網”的所有作品，版權歸原作者或者來源機構所有,如果有涉及作品內容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一個月內與本網聯系，聯系郵箱service@baijiantest.com，否則視為默認百檢網有權進行轉載。

②本網注名來源于“百檢網”的所有作品，版權歸百檢網所有，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。想要轉載本網作品，請聯系:service@baijiantest.com。已獲本網授權的作品，應在授權范圍內使用，并注明"來源：百檢網"。違者本網將追究相關法律責任。

③本網所載作品僅代表作者獨立觀點，不代表百檢立場，用戶需作出獨立判斷，如有異議或投訴，請聯系service@baijiantest.com

全行業(yè)甄選實驗室

最快1天出報告

全程管控、質量保障

省錢、省時、省力

關于我們 萬檢（上海）信息科技有限公司（簡稱：百檢網）是國內知名B2B檢測電商服務平臺，專注于為第三方檢測機構以及中小微企業(yè)及個人用戶搭建互聯網+檢測電商服務平臺。平臺匯集了國內外權威檢測機構（CNAS/CMA）,其中不乏國家級、省級重點實驗室以及國際知名檢測機構，為廣大用戶提供一站式檢測服務。

客服熱線 400-101-7153 專屬服務：156 0190 2607 企業(yè)郵箱：Service@Baijiantest.Com 聯系地址：上海市徐匯區(qū)宜山路700號

關注百檢

微信公眾號

官方微博

首頁檢測能力合作機構檢測服務檢測標準檢測資訊檢測新聞檢測問答技術知識檢測百科產品專題入駐合作關于百檢法律申明

百檢集團