標準簡介

本部分適用于GB/T5080.1—2012中8.1和8.2所述的不修理產(chǎn)品或修理產(chǎn)品可靠性試驗工作與環(huán)境條件試驗周期的設(shè)計。 推薦的試驗條件見GB/T7288—1987《設(shè)備可靠性試驗 推薦的試驗條件》。當“推薦的試驗條件”不適用時,本部分給出了試驗周期設(shè)計的一般程序,它為需要精確模擬實際使用條件的特定產(chǎn)品可靠性試驗的試驗周期設(shè)計規(guī)定了詳細的步驟和方法。 按本部分設(shè)計的試驗,一般不能代替通常的功能特性試驗、環(huán)境試驗和鑒定試驗。 某些情況下,在應(yīng)用以本部分所述方法設(shè)計的試驗周期進行試驗之前有必要進行預先暴露試驗,而判定是否要進行預先暴露試驗的根據(jù)并不在本部分描述。
英文名稱：Reliability testing - Part 2: Design of test cycles
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
替代情況：替代GB/T 5080.2-1986
中標分類：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L05可靠性和可維護性
ICS分類：試驗>>19.020試驗條件和規(guī)程綜合
發(fā)布部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
發(fā)布日期：2012-11-05
實施日期：2013-02-15
出版日期：2013-02-15
頁數(shù)：24頁

前言

GB/T5080《可靠性試驗》分為六個部分:———第1部分:試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理;———第2部分:試驗周期設(shè)計;———第4部分:指數(shù)分布情況下的點估計、置信區(qū)間、預測區(qū)間和容許區(qū)間統(tǒng)計方法;———第5部分:成功率的驗證試驗方案;———第6部分:恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗;———第7部分:恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案。注:上面所列之所以缺少第3部分,是因為對應(yīng)于IEC的相應(yīng)部分是國標GB/T7288。本部分為GB/T5080的第2部分。本部分根據(jù)GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009給出的規(guī)則起草。本部分代替GB/T5080.2—1986《設(shè)備可靠性試驗 試驗周期設(shè)計導則》。本次修訂沒有技術(shù)內(nèi)容上的改動。本部分使用翻譯法等同采用IEC605-2:1994《設(shè)備可靠性試驗 第2部分:試驗周期設(shè)計導則》。本部分做了編輯性修改,編輯性差異主要體現(xiàn)在:———將標準的標題《設(shè)備可靠性試驗 試驗周期設(shè)計導則》修改為《可靠性試驗 第2部分:試驗周期設(shè)計》;———通篇“設(shè)備”改為“產(chǎn)品”;———增加了“規(guī)范性引用文件”的內(nèi)容。本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品可靠性與維修性標準化技術(shù)委員會(SAC/TC24)歸口。本部分起草單位:工業(yè)和信息化部電子第五研究所、北京大學。本部分主要起草人:時鐘、陽川、汪凱蔚、房祥忠。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:———GB/T5080.2—1986。