GB/T 5095.2502-2021 電子設備用機電元件 基本試驗規程及測量方法 第25-2部分：試驗25b：衰減（插入損耗）
作者：百檢網 時間：2022-10-22
標準簡介
本部分適用于電連接器、插座、電纜組件或互連系統。 本部分描述了測量作為頻率函數的衰減/插入損耗的頻域法和時域法。 注： 本文件從始至終引用了“衰減”一詞。當按樣品和傳輸線類型進行測量的專業試驗人員總結和報告試驗測量結果時，必須使用合適的術語（衰減或插入損耗）。英文名稱：Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-2:Test 25b:Attenuation (insertion loss)
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>電子元件>>L23連接器
ICS分類：電子學>>電子電信設備用機電零部件>>31.220.10插頭和插座裝置、連接器
發布部門：國家市場監督管理總局.
發布日期：2021-03-09
實施日期：2021-10-01
出版日期：2021-03-01
頁數：16頁
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