GB/T 5095.2503-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法 第25-3部分：試驗(yàn)25c：上升時間衰減
作者：百檢網(wǎng) 時間：2022-10-22
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本部分適用于電連接器、插座、電纜組件或互連系統(tǒng)。 本部分描述了測量樣品對通過其中信號的上升時間所產(chǎn)生影響的方法。英文名稱：Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3:Test 25c: Rise time degradation
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
中標(biāo)分類：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元件>>L23連接器
ICS分類：電子學(xué)>>電子電信設(shè)備用機(jī)電零部件>>31.220.10插頭和插座裝置、連接器
發(fā)布部門：國家市場監(jiān)督管理總局.
發(fā)布日期：2021-03-09
實(shí)施日期：2021-10-01
出版日期：2021-03-01
頁數(shù)：16頁
前言
連接器相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
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