GB/T 31359-2015 半導體激光器測試方法
作者：百檢網 時間：2022-10-22
標準簡介
本標準規定了半導體激光器主要光電參數的測試方法。 本標準適用于半導體激光器主要光電參數的測試。半導體激光器組件可參考執行。英文名稱：Test methods of semiconductor lasers
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>光電子器件>>L51激光器件
ICS分類：電子學>>31.260光電子學、激光設備
發布部門：中國標準出版社
發布日期：2015-02-04
實施日期：2015-08-01
出版日期：2015-08-01
頁數：36頁
前言
本標準按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本標準由中國機械工業聯合會提出。本標準由全國光輻射安全和激光設備標準化技術委員會(SAC/TC284)歸口。本標準起草單位:西安炬光科技有限公司、中國科學院西安光學精密機械研究所、中國科學院半導體研究所、北京國科世紀激光技術有限公司、武漢華工正源光子技術有限公司、中國電子科技集團公司第十三研究所。本標準主要起草人:劉興勝、趙衛、許國棟、張艷春、楊軍紅、馬曉宇、唐琦、吳迪、王貞福、王警衛、謝彥虎、王家贊、李小寧、史俊紅、陳海蓉、仲莉、石朝輝、張恩、許海明、張國新。相關標準
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