作者:百檢網 時間:2022-10-22
標準簡介
本標準規定了用電子背散射衍射法(EBSD)對拋光截面進行平均晶粒尺寸的測定方法,包含與晶體試樣中的位置相關的取向、取向差和花樣質量因子的測量要求[1]。 注1: 使用光學顯微鏡測定晶粒尺寸已為大家普遍接受,與其相比,EBSD具有很多技術優勢,如高的空間分辨率和晶粒取向的定量描述等。 注2: 該方法還可用于一些復雜材料(如雙相材料)的晶粒尺寸測量。 注3: 對變形程度較大的試樣進行分析時,需謹慎處理結果。前言
基礎標準與通用方法相關標準1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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