標(biāo)準(zhǔn)簡介

本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”； ———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”； ———增加了“術(shù)語和定義”一章； ———增加了“溫度波動度”檢驗項目； ———增加了“溫度均勻度”檢驗項目； ———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目； ———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目； ———增加了“溫度過沖量”檢驗項目； ———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目； ———增加了“噪聲”檢驗項目； ———刪除了“相對濕度”檢驗項目； ———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（k＝２）的要求 ———增加了“檢驗負載”一章； ———修改了“溫度變化速率”的計算方法； ———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)； ———刪除了“檢定過程中的處理”部分； ———附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”； ———刪除了附錄Ｂ “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。
英文名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products - Temperature testing equipments
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
替代情況：替代GB/T 5170.2-1996;被GB/T 5170.2-2017代替
中標(biāo)分類：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：試驗>>19.040環(huán)境試驗
發(fā)布部門：中國電器工業(yè)協(xié)會
發(fā)布日期：2008-06-16
實施日期：2009-03-01
作廢日期：2018-07-01
出版日期：2009-03-01
頁數(shù)：13頁

前言

GB/T5170目前包含以下幾部分:---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備本部分是GB/T5170的第2部分。本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備;---所有用詞檢定更改為檢驗;---增加了術(shù)語和定義一章;---增加了溫度波動度檢驗項目;---增加了溫度均勻度檢驗項目;---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗項目;---增加了溫度指示誤差檢驗項目;---增加了溫度過沖量檢驗項目;---增加了溫度過沖恢復(fù)時間檢驗項目;---增加了噪聲檢驗項目;---刪除了相對濕度檢驗項目;---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度(k=2)的要求;---增加了檢驗負載一章;---修改了溫度變化速率的計算方法;---測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);---刪除了檢定過程中的處理部分;---附錄A測量記錄表格示例更改為檢驗項目的選擇;---刪除了附錄B 溫度波動度、溫度均勻度檢定方法。附錄A 為規(guī)范性附錄。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC8)提出并歸口。本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985;---GB/T5170.2-1996。