標準簡介

ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。 本部分適用于對ＧＢ／Ｔ２４２３．２４ 《電工電子產品環境試驗　第２部分：試驗方法　試驗Ｓａ：模擬地 面上的太陽輻射》所用試驗設備的首次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。 本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。
英文名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products—Solar radiation testing equipments
標準狀態：作廢
替代情況：替代GB/T 5170.9-1996;被GB/T 5170.9-2017代替
中標分類：電工>>電工綜合>>K04基礎標準與通用方法
ICS分類：試驗>>19.040環境試驗
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2008-06-16
實施日期：2008-09-01
作廢日期：2018-07-01
出版日期：2008-09-01
頁數：12頁

前言

GB/T5170目前包含以下幾部分:---GB/T5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則---GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備---GB/T5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備---GB/T5170.8-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 鹽霧試驗設備---GB/T5170.9-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備---GB/T5170.10-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備---GB/T5170.11-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備---GB/T5170.13-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺---GB/T5170.14-1985 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺---GB/T5170.15-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺---GB/T5170.16-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 穩態加速度試驗用離心機---GB/T5170.17-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備---GB/T5170.18-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/濕度組合循環試驗設備---GB/T5170.19-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設備---GB/T5170.20-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 水試驗設備本部分是GB/T5170的第9部分。本部分代替GB/T5170.9-1996。與GB/T5170.9-1996相比,技術內容主要有如下變化:---標準名稱電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 太陽輻射試驗設備更改為電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備;---所有用詞檢定更改為檢驗;---增加了術語和定義一章;---增加了溫度波動度檢驗項目;---檢驗項目溫度變化速率更改為每5min溫度平均變化速率;---增加了溫度指示誤差檢驗項目;---增加了噪聲檢驗項目;---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了測量系統其測量結果的擴展不確定度(犽=2)的要求;---增加了檢驗負載一章;---測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據;---刪除了檢定過程中的處理部分;ⅠGB/T5170.9-2008---增加了附錄A 檢驗項目的選擇。附錄A 為規范性附錄。本部分由全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會(SAC/TC8)提出并歸口。本部分起草單位:信息產業部電子第五研究所。本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:---GB/T5170.9-1985;---GB/T5170.9-1996。