作者:百檢網 時間:2022-10-22
標準簡介
GB/T26332規定了在光學元器件及基片表面鍍制的光學薄膜的應用功能分類、技術指標的標準表述形式、常規特性及試驗測量方法,但不擬用于規定鍍制方法。本部 分 規 定 了 在 GB/T 26332.3 中 提 到 的 光 學 薄 膜 環 境 適 應 性 試 驗 方 法,這 些 方 法 在GB/T12085—2010標準中沒有描述。這些方法通常與 GB/T26332.3—2015附錄 A 中的測試方法組成試驗序列共同使用。本部分不適用于眼科光學(眼鏡)的光學薄膜。前言
GB/T26332《光學和光子學 光學薄膜》分為4個部分:———第1部分:定義;———第2部分:光學特性;———第3部分:環境適應性;———第4部分:規定的試驗方法。本部分為 GB/T26332的第4部分。本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本部分使用翻譯法等同采用ISO9211-4:2012《光學和光子學 光學薄膜 第4部分:規定的試驗方法》(英文版)。與本部分中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:———GB/T6031—1998 硫化橡膠或熱塑性橡膠硬度的測定(10~100IRHD)(ISO48:1994,IDT)———GB/T26332.1—2010 光學和光學儀器 光學薄膜 第 1 部分:定義(ISO9211-1:1994,IDT)本部分由中國機械工業聯合會提出并歸口。本部分起草單位:沈陽儀表科學研究院有限公司、同濟大學、浙江大學、大連化學物理研究所、沈陽匯博光學公司、杭州科汀光學技術有限公司、國家儀器儀表元器件質量監督檢驗中心。本部分主要起草人:王瑞生、費書國、陰曉俊、王占山、程鑫彬、趙帥鋒、馬敬、章岳光、顧培夫、孫龍、胡雯雯、鄧淞文、王鋒、徐秋玲、殷波、高鵬、王忠連。1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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