標準簡介

GB/T5594的本部分規定了陶瓷材料平均線膨脹系數測試的樣品、測試設備、測試方法及報告格式。 本部分適用于電子元器件結構陶瓷材料的平均線膨脹系數的測試。
英文名稱：Test methods for properties of structure ceramicused in electronic components and device—Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion
標準狀態：現行
替代情況：替代GB/T 5594.3-1985
中標分類：電子元器件與信息技術>>電子設備專用材料、零件、結構件>>L90電子技術專用材料
ICS分類：31-030
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2015-05-15
實施日期：2016-01-01
出版日期：2016-01-01
頁數：8頁

前言

GB/T5594《電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法》的結構如下:———氣密性測試方法(GB/T5594.1);———楊氏彈性模量 泊松比測試方法(GB/T5594.2);———第3部分:平均線膨脹系數測試方法(GB/T5594.3);———第4部分:介電常數和介質損耗角正切值測試方法(GB/T5594.4);———體積電阻率測試方法(GB/T5594.5);———第6部分:化學穩定性測試方法(GB/T5594.6);———第7部分:透液性測定方法(GB/T5594.7);———第8部分:顯微結構測定方法(GB/T5594.8);———電擊穿強度測試方法(GB/T5594.9)。本部分為 GB/T5594的第3部分。本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本部分代替 GB/T5594.3—1985《電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 平均線膨脹系數測試方法》。本部分與 GB/T5594.3—1985相比,主要有下列變化:———標準名稱改為:“電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第3部分:平均線膨脹系數測試方法”;———4.1測試樣品改為?3.5×50mm;———4.2套管和傳遞桿的材料從石英玻璃變化為石英玻璃或高溫氧化鋁陶瓷;———4.4測量范圍從室溫至800 ℃變化為室溫至1200 ℃;———4.5線膨脹系數單位改為 K-1。請注意本文件的某些內容可能涉及專利,本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任。本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出。本部分由中國電子技術標準化研究院歸口。本部分起草單位:中國電子科技集團公司第十二研究所、河南濟源兄弟材料有限公司、浙江溫嶺特種陶瓷廠。本部分主要起草人:高隴橋、黃國立、胡菊飛。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:———GB/T5594.3—1985。