標準簡介

GB/T5594的本部分規定了電子元器件結構陶瓷中的氧化鋁、氧化鈹等陶瓷材料化學穩定性的測試方法。 本部分適用于電子元器件結構陶瓷中的氧化鋁、氧化鈹等陶瓷材料化學穩定性的測試。 本部分不適用于測定鎂橄欖石、莫來石、滑石等陶瓷材料的化學穩定性。
英文名稱：Test methods for properties of structure ceramics used in electronic component and device—Part 6:Test method for chemical durability
標準狀態：現行
替代情況：替代GB/T 5594.6-1985
中標分類：電子元器件與信息技術>>電子設備專用材料、零件、結構件>>L90電子技術專用材料
ICS分類：31-030
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2015-05-15
實施日期：2016-01-01
出版日期：2016-01-01
頁數：8頁

前言

GB/T5594《電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法》分為以下部分:———氣密性測試方法(GB/T5594.1);———楊氏彈性模量 泊松比測試方法(GB/T5594.2);———第3部分:平均線膨脹系數測試方法(GB/T5594.3);———第4部分:介電常數和介質損耗角正切值測試方法(GB/T5594.4);———體積電阻率測試方法(GB/T5594.5);———第6部分:化學穩定性測試方法(GB/T5594.6);———第7部分:透液性測定方法(GB/T5594.7);———第8部分:顯微結構測定方法(GB/T5594.8);———電擊穿強度測試方法(GB/T5594.9)。本部分為 GB/T5594的第6部分。本部分按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本部分代替 GB/T5594.6—1985《電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 化學穩定性測試方法》。本部分與 GB/T5594.6—1985相比,主要有下列變化:———標準名稱改為:“電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第6部分:化學穩定性測試方法”;———在“6.1.1”中,將測試樣品數量由原來的2個修改為3個,增加了“選擇無氣孔、無裂紋及無其他缺陷的試樣”;———在“6.1.2”中,修改了“皂片溶液”為“去污粉”;———在“6.2.3”中,修改了“甘油溶液作為水浴鍋加熱溶液”為“蒸餾水作為水浴鍋加熱溶液”;———在“7.1”和“7.2”中,將試樣重量修改為質量,符號由G 修改為m,計算公式相應修改。———增加了“8 測試結果及報告”。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任。本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出。本部分由中國電子技術標準化研究院歸口。本部分起草單位:中國電子科技集團公司第十二研究所、北京七星飛行電子有限公司。本部分主要起草人:何曉梅、曾桂生、何詩靜。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:———GB/T5594.6—1985。