GB/T 27788-2011 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則
作者：百檢網 時間：2022-10-23
標準簡介
本標準規定了使用適當的參考物質對掃描電鏡(SEM)圖像的放大倍率進行校準的方法。本標準限于對由參考物質上線距大小的范圍所決定的放大倍率進行校準。本標準不適用于專用測長型掃描電鏡。英文名稱：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
標準狀態：作廢
替代情況：被GB/T 27788-2020代替
中標分類：儀器、儀表>>光學儀器>>N32放大鏡與顯微鏡
ICS分類：成像技術>>37.020光學設備
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2011-12-30
實施日期：2012-08-01
作廢日期：2021-04-01
出版日期：2012-08-01
頁數：20頁
前言
本標準按GB/T1.1—2009給出的規則編寫。本標準采用翻譯法等同采用ISO16700:2004《微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則》(英文版)。本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。本標準主要起草單位:中國地質科學院礦產資源研究所、中國科學院上海硅酸鹽研究所、上海第二軍醫大學。本標準主要起草人:陳振宇、周劍雄、李香庭、楊勇驥。相關標準
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