GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則
作者：百檢網 時間：2022-10-23
標準簡介
本標準規定了使用適當的參考物質對掃描電鏡（SEM）圖像的放大倍率進行校準的方法。本標準適用于對由校準參考物質上間距大小的可用范圍決定的放大倍率進行校準。本標準不適用于專用測長型掃描電鏡。英文名稱：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
標準狀態：現行
替代情況：替代GB/T 27788-2011
中標分類：儀器、儀表>>光學儀器>>N32放大鏡與顯微鏡
ICS分類：成像技術>>37.020光學設備
發布部門：國家市場監督管理總局.
發布日期：2020-06-02
實施日期：2021-04-01
出版日期：2020-06-01
頁數：24頁
前言
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