GB/T 28177.3-2012 識別卡 柔性薄卡 第3部分：測試方法
作者：百檢網 時間：2022-10-23
標準簡介
英文名稱：Identification cards—Thin flexible cards—Part 3:Test methods
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>計算機>>L64數據媒體
ICS分類：信息技術、辦公機械設備>>信息技術應用>>35.240.15識別卡和有關裝置
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2012-12-31
實施日期：2013-06-01
出版日期：2013-06-01
頁數：36頁
前言
前言 Ⅲ引言 Ⅳ1 范圍 12 規范性引用文件 13 術語和定義 24 物理特性測試方法 34.1 概述 34.2 尺寸 44.3 厚度 44.4 分離力 54.5 卷繞 64.6 耐破度 64.7 挺度 64.8 耐折度 74.9 灰分 74.10 平滑度 74.11 不透明度(紙背襯)和阻光度(700nm~1000nm) 74.12 摩擦系數和堆垛力 84.13 反射因數 84.14 透氣度 84.15 施膠度 84.16 耐撕裂強度 94.17 抗分層力 94.18 冷裂溫度(脆度) 135 磁條物理特性的試驗方法 145.1 樣品準備和保存 145.2 條件和測試環境 145.3 凸起 145.4 輪廓偏差 155.5 粗糙度Ra 和Rz 155.6 翹曲 165.7 粘合 165.8 磨損試驗 16__ 5.9 磁條尺寸測量 176 靜磁特性的測試方法 176.1 原理 176.2 儀器 176.3 樣品的準備和保存 186.4 規程 186.5 結果表述 196.6 矯頑力HcM 206.7 矩形比SQ 206.8 開關場分布(SFD) 206.9 測試報告 207 動態磁特性測試方法 217.1 原理 217.2 基準卡 217.3 儀器 217.4 準備和樣品保存 217.5 測試方法 227.6 結果表述 227.7 測試報告 228 帶非接觸式芯片和天線的卡片測試 238.1 相連卡的芯片/天線連接的可靠性 238.2 單張卡的芯片/天線連接的可靠性 248.3 耐劃痕測試后的芯片/天線連接性測試 258.4 卡的耐折皺或折疊測試 26參考文獻 28相關標準
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