GB/T 30702-2014 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
作者：百檢網 時間：2022-10-24
標準簡介
本標準規定了在俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜均勻材料定量分析中相對靈敏度因子的實驗測量和使用指南。英文名稱：Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
標準狀態：現行
中標分類：化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法
ICS分類：化工技術>>分析化學>>71.040.40化學分析
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2014-06-09
實施日期：2014-12-01
出版日期：2014-12-01
頁數：28頁
前言
本標準按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。本標準采用翻譯法等同采用ISO18118:2004《表面化學分析 俄歇電子能譜和 X射線光電子能譜實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南》。與本標準中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:———GB/T22461—2008 表面化學分析 詞匯(ISO18115:2001,IDT);———GB/T21006—2007 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標線性(ISO21270:2004,IDT)。本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。本標準負責起草單位:北京師范大學分析測試中心。本標準主要起草人:吳正龍。相關標準
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