作者:百檢網 時間:2022-10-24
標準簡介
本標準給出了使用電子背散射衍射(EBSD)技術進行晶體取向測量的指南,使測量數據具有較高的可靠性和重復性,本標準確立了試樣制備、儀器配置、校正以及數據采集的一般原則。本標準適用于EBSD對塊狀晶體樣品的晶粒取向分析。前言
本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。本標準使用翻譯法等同采用國際標準:ISO24173:2009《微束分析 電子背散射衍射取向測定方法導則》。與本標準中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:———GB/T27025—2008 檢測和校準實驗室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)。本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。本標準起草單位:上海發電設備成套設計研究院、寶鋼集團中央研究院、中國科學院上海硅酸鹽研究所。本標準主要起草人:張作貴、田青超、陳家光、曾毅。1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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