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GB/T 34002-2017 微束分析透射電子顯微術用周期結構標準物質校準圖像放大倍率的方法

作者：百檢網時間：2022-10-24

標準簡介

本標準規定了透射電鏡（TEM）在很大放大倍率范圍內所記錄的圖像的校準方法。用于校準的標準物質具有周期性結構，例如衍射光柵復型、半導體的超點陣結構或 X 射線分析的分光晶體以及碳、金或硅的晶體晶格像。本標準適用于記錄在照相膠片上、或成像板上、或數字相機內置傳感
英文名稱：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
標準狀態：現行
中標分類：化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法
ICS分類：化工技術>>分析化學>>71.040.40化學分析
發布部門：國家質量監督檢驗檢疫.
發布日期：2017-07-12
實施日期：2018-06-01
出版日期：2017-07-28
頁數：40頁

前言

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