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GB/T 4930-2008 微束分析 電子探針分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2022-10-24

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)給出了用于電子探針分析的單相標(biāo)樣,并規(guī)定了標(biāo)樣僅應(yīng)用在平整拋光表面的顯微分析中。本標(biāo)準(zhǔn)不包括有機(jī)物和生物標(biāo)樣。本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO14595:2003《微束分析 電子探針分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則》(英文版)。 本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T4930—1993《電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件》,因?yàn)閲H上的發(fā)展原標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)上已不適用。 本標(biāo)準(zhǔn)對GB/T4930—1993進(jìn)行了全面修改: ———標(biāo)題:將GB/T4930—1993原標(biāo)題“電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件”改為“微束分析電子探針分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則”; ———所有技術(shù)條文的項(xiàng)目、內(nèi)容、結(jié)構(gòu)順序都作了變動,運(yùn)用的技術(shù)方法更先進(jìn),更合理; ———標(biāo)樣材料不均勻性檢測及其數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理改用美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院(NIST)和英國國家物理實(shí)驗(yàn)室(NPL)共同研制的檢測和統(tǒng)計(jì)方法; ———將標(biāo)樣分級的概念引入本標(biāo)準(zhǔn),使制作和應(yīng)用標(biāo)樣的領(lǐng)域擴(kuò)大,更合理,更全面。
英文名稱:Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢
替代情況:被GB/T 4930-2021代替;替代GB/T 4930-1993
中標(biāo)分類:儀器、儀表>>物質(zhì)成分分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器>>N53電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器
ICS分類:71.040.30;71.040.99
發(fā)布部門:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
發(fā)布日期:2008-04-11
實(shí)施日期:2008-10-01
作廢日期:2021-12-01
出版日期:2008-07-01
頁數(shù):16頁

前言

本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO14595:2003《微束分析 電子探針分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則》(英文版)。為了便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改:---本國際標(biāo)準(zhǔn)一詞改為本標(biāo)準(zhǔn);---用小數(shù)點(diǎn).代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號,;---刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的前言。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T4930-1993《電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件》,因?yàn)閲H上的發(fā)展原標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)上已不適用。本標(biāo)準(zhǔn)對GB/T4930-1993進(jìn)行了全面修改:---標(biāo)題:將GB/T4930-1993原標(biāo)題電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件(00j)Tj改為微束分析 電子探針分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則;---所有技術(shù)條文的項(xiàng)目、內(nèi)容、結(jié)構(gòu)順序都作了變動,運(yùn)用的技術(shù)方法更先進(jìn),更合理;---標(biāo)樣材料不均勻性檢測及其數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理改用美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院(NIST)和英國國家物理實(shí)驗(yàn)室(NPL)共同研制的檢測和統(tǒng)計(jì)方法;---將標(biāo)樣分級的概念引入本標(biāo)準(zhǔn),使制作和應(yīng)用標(biāo)樣的領(lǐng)域擴(kuò)大,更合理,更全面。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄B為規(guī)范性附錄,附錄A、附錄C 為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國科學(xué)院廣州地球化學(xué)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:劉永康、萬光權(quán)、梁細(xì)榮、楊秋劍。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:---GB4930-1985、GB/T4930-1993。

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