GB/T 4937.11-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法
作者：百檢網 時間：2022-10-24
標準簡介
GB/T 4937的本部分規定了快速溫度變化--雙液槽法的試驗方法。當器件鑒定既可以采用空氣?空氣溫度循環又可以采用快速溫度變化--雙液槽法試驗時，優先采用空氣-空氣溫度循環試驗。本試驗也可采用少量循環(5次～10次)的方式來模擬清洗器件的加熱液體對器件的影響。本試驗適用于所有的半導體器件。除非在有關規范中另有說明，本試驗被認為是破壞性的。本試驗與GB/T 2423.22-2002基本一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，采用本部分的條款。英文名稱：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>半導體分立器件>>L40半導體分立器件綜合
ICS分類：電子學>>半導體器件>>31.080.01半導體器件綜合
發布部門：國家市場監督管理總局.
發布日期：2018-09-17
實施日期：2019-01-01
出版日期：2018-09-01
頁數：8頁
前言
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