GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告
作者：百檢網 時間：2022-10-25
標準簡介
本標準給出了采用XPS對基材上薄膜的分析報告所需的*少信息量要求的說明。這些分析涉及化學組成和均勻薄膜厚度的測量，以及采用變角XPS、XPS濺射深度剖析、峰形分析和可變光子能量XPS的方式對非均勻薄膜作為深度函數的化學組成的測量。英文名稱：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis
標準狀態：現行
中標分類：化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法
ICS分類：化工技術>>分析化學>>71.040.40化學分析
發布部門：國家市場監督管理總局.
發布日期：2018-06-07
實施日期：2019-05-01
出版日期：2018-06-01
頁數：44頁
前言
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