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GB/T 36474-2018 半導體集成電路第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器 (DDR3 SDRAM)測試方法

作者：百檢網時間：2022-10-25

標準簡介

本標準規定了半導體集成電路第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器(DDR3 SDRAM)功能驗證和電參數測試的方法。本標準適用于半導體集成電路領域中第三代雙倍數據速率同步動態隨機存儲器(DDR3 SDRAM)功能驗證和電參數測試。
英文名稱：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>微電路>>L56半導體集成電路
ICS分類：電子學>>31.200集成電路、微電子學
發布部門：國家市場監督管理總局.
發布日期：2018-06-07
實施日期：2019-01-01
出版日期：2018-06-01
頁數：20頁

前言

半導體集成電路相關標準

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