標準簡介
本標準規定了電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的XRD測試方法。
本標準適用于電子封裝用球形二氧化硅微粉中檢測α態晶體二氧化硅含量,其它無定形二氧化硅含量的檢測也可參照本標準執行。α態晶體二氧化硅含量測試范圍0.5%以下半定量分析,0.5%-5%定量分析。
英文名稱:Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
標準狀態:現行
中標分類:電子元器件與信息技術>>電子設備專用材料、零件、結構件>>L90電子技術專用材料
ICS分類:31.030
發布部門:國家市場監督管理總局.
發布日期:2018-09-17
實施日期:2019-01-01
出版日期:2018-09-01
頁數:12頁
前言
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